DLI-400光合有效辐射日光积分测量仪美国Apogee

产品名称：日光积分测量仪
品牌：Apogee
产地：美国
型号：DLI-400

DLI-400日光积分测量仪美国Apogee的介绍：

• Apogee新的DLI-400测量仪设计用于测量400-700纳米的光合有效辐射（PAR），是一种低成本的选择，只在阳光和一些宽带光源下准确。可以应用测量后的修正系数来提高光源下的准确性；除了测量PAR，DLI-400测量仪还可以计算每日光积分（DLI）和光周期。
• DLI-400测量仪有两种不同的屏幕模式：存储数据和实时查看数据。在存储数据屏幕中，它显示DLI测量值、光照时间和哪一天收集的数据（**多99天以前）。实时查看数据屏幕显示过去2.5秒内PPFD的运行平均值。

DLI-400日光积分测量仪美国Apogee的技术参数：
测量重复性：小于 0.5 %
测量范围：0 至 4000 µmol mˉ² sˉ¹
长期漂移：每年少于 2%
视野：180°
光谱测量范围：(± 5 nm)370 至 650 nm（仅限阳光）
余弦响应：± 5 % 在 75˚ 天顶角
响应时间：2.5 秒
测量频率：3分钟
数据记录容量：99 天（DLI 和光周期），10 天（30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值）
非线性：小于 1 %（** 4000 µmol mˉ² sˉ¹）
存储数据分辨率 (PPFD)：0.1 µmol mˉ² sˉ¹（≥1000时屏幕不显示小数）
存储数据分辨率 (DLI)：0.1 mol mˉ² 天ˉ¹
存储数据分辨率（光周期）：0.1小时
连接性：Type--C 数据传输的 CSV 文件
ADC 分辨率：24 位
操作环境：-10 至 60 ℃；0 至 100 % 相对湿度
电池寿命：6个月
重量：67g
 

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